研究级傅立叶变换红外光谱仪
VERTEX 80和VERTEX 80v真空FTIR光谱仪采用主动准直的 UltraScan™ 干涉仪,能够为您带来极佳的光谱分辨率。高精度的线性气动轴承扫描仪以及优质光学元件为仪器的极限灵敏度和稳定性提供了保证。VERTEX 80v采用真空光学台,可消除大气中的水分吸收,从而实现极佳的灵敏度和稳定性,助力进行诸多高难度试验,如高分辨率、超快速扫描、步进扫描或紫外光谱范围测量。
VERTEX 80和VERTEX 80v光谱仪是VERTEX系列的高端研究级仪器。其独具创新的光学设计使得极为强大的台式吹扫和真空光谱仪成为可能。它们能够提供从紫外/可见光(50000 cm-1) 到远红外/太赫兹(5 cm-1)的广泛光谱范围、极高的光谱和时间分辨率以及卓越的灵活性。多功能VERTEX 80/80v 系统能够通过其尖端的技术,为所有高端研究应用提供完美的解决方案。
研究与开发
用于幅度/相位调制光谱的连续和步进扫描技术
用于高时间分辨率实验的快速、交叉和步进扫描技术(步进扫描 / 快速扫描 / 交叉扫描时间分辨光谱)
对周期性有序微观材料(即超材料)进行表征
用于气体分析分辨率优于0.06 cm-1的高分辨率光谱
用于真空红外光束装置的系统化
酶催化实验的停流方法
外接超高真空测量腔室
用于电极表面和电解质原位研究的FTIR 光谱电化学
制药
测定分子的绝对构(VCD)
通过热分析对药物产品的稳定性和挥发物含量进行表征 (TGA-FTIR)
远红外谱区区分活性药物成分多晶型
聚合物与化学
远红外谱区识别聚合物复合材料中的无机填料
聚合物动态和流变学研究
测定挥发性化合物及表征热分解过程 (TGA-FTIR)
反应监测和反应控制 (中红外光纤探头)
识别无机矿物质和颜料
表面分析
薄膜和单分子层检测与表征
结合偏振调制进行表面分析 (PM-IRRAS)
材料科学
光学和高反射材料(光窗、反射镜)的表征
通过光声光谱学(PAS)研究深色物质和深度剖析
材料的发射行为表征
半导体
硅晶圆中氧和碳含量的测定
浅能级杂质的低温透射和光致发光(PL)测量进行质量控制
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